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Scan100太陽(yáng)能電池檢測(cè)又稱太陽(yáng)能電池QE/IPCE量子效率測(cè)試儀
Solar Cell Scan100
太陽(yáng)能電池（光伏材料）光譜響應(yīng)測(cè)試、量子效率QE（Quantum Efficiency）測(cè)試、光電轉(zhuǎn)換效率IPCE （Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency） 測(cè)試等。廣義來(lái)說(shuō)，就是測(cè)量光伏材料在不同波長(zhǎng)光照條件下的光生電流、光導(dǎo)等。
| Scan100太陽(yáng)能電池QE/IPCE量子效率測(cè)試儀的測(cè)試原理 用強(qiáng)度可調(diào)的偏置光照射太陽(yáng)能電池，模擬其不同的工作狀態(tài)，同時(shí)測(cè)量太陽(yáng)能電池在不同波長(zhǎng)的單色光照射下產(chǎn)生的短路電流,從而得到太陽(yáng)能電池的 光譜響應(yīng)與量子效率。 |
| Solar Cell Scan100系統(tǒng)組成 ■ 系統(tǒng)包括兩個(gè)150Ｗ氙燈，分別做為探測(cè)光源和偏置光源（選配件）。 ■ 采用300mm焦距的三光柵光譜儀做為分光系統(tǒng),保證良好的波長(zhǎng)準(zhǔn)確度和重復(fù)性，消除多級(jí)光譜的影響。 ■ *的測(cè)試光路，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)響應(yīng)度與鏡面反射率的測(cè)試．對(duì)于漫反射樣品的反射率測(cè)試，則采用積分球方式來(lái)實(shí)現(xiàn)，確保了測(cè)試的準(zhǔn)確性．探測(cè)光光斑大小從3mm至10mm可調(diào)，以適合不同尺寸的樣品測(cè)試。 ■ 樣品臺(tái)采用高精度二維平移機(jī)構(gòu)，配有恒溫（或變溫）及真空吸附裝置，變溫范圍可達(dá)到5～40度。 ■ 系統(tǒng)可工作于斬波模式與連續(xù)模式，斬波模式采用鎖相放大器來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集，連續(xù)模式采用高精度直流放大器來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集。 ■ 采用二維高精度電控位移臺(tái)可對(duì)電池樣品進(jìn)行Mapping掃描， ■ 專業(yè)軟件，可實(shí)現(xiàn)一鍵自動(dòng)完成響應(yīng)度、反射率、QE及IPCE的測(cè)試。并可針對(duì)不同應(yīng)用，自行設(shè)計(jì)測(cè)試流程。 |  |
| ◆ *的垂直光路設(shè)計(jì) *的垂直光路設(shè)計(jì)，被測(cè)樣品平面放置,不僅確保樣品的穩(wěn)定擺放，以保證測(cè)試的穩(wěn)定性，而且更適合染料敏化電池的測(cè)試。 ◆ JSC模擬計(jì)算功能 ◆ 時(shí)間穩(wěn)定度測(cè)試 ◆ 具有真空吸附及恒溫保持功能的樣品臺(tái)（選配件） ◆ 測(cè)試光斑大小可調(diào)，適用不同尺寸樣品的測(cè)試 |
| ◆ 多結(jié)以及多層膜電池的測(cè)試 通過(guò)改變偏置光光強(qiáng),來(lái)飽和各結(jié)太陽(yáng)能電池，分析待測(cè)結(jié)太陽(yáng)能電池量子效率。 | ◆ 反射率測(cè)量 系統(tǒng)提供鏡面反射與漫反射測(cè)試選件，提供您完整的反射率測(cè)試分析手段。 |
| ◆ 開放式偏置光路 偏置光路上預(yù)留光學(xué)元件的安裝位置，您可自由改變偏置光的條件，可用于對(duì)太陽(yáng)能電池缺陷做先期的分析。 ◆ 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái) 適用于樣品尺寸相對(duì)固定的太陽(yáng)能電池片的量測(cè)?？缮?jí)為變溫或恒溫樣品臺(tái)。 ◆ 變溫樣品臺(tái) 在不同的溫度下測(cè)量太陽(yáng)能電池電流的輸出，對(duì)太陽(yáng)能電池在實(shí)際工作環(huán)境下是否存在缺陷做先期的分析。 ◆ 大面積太陽(yáng)能電池片（ 大156x156mm）的掃描檢測(cè),二維自動(dòng)平移系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)電池樣品的各個(gè)位置做測(cè)量分析（選配件） 1.量子效率均勻性分析 2.反射率均勻性分析 | |
| ◆ 斬波與連續(xù)兩種測(cè)試模式，可實(shí)現(xiàn)常規(guī)光電池以及慢響應(yīng)光電池的光譜響應(yīng)測(cè)試 Solar Cell Scan 100 提供斬波模式QE/IPCE測(cè)量，可實(shí)現(xiàn)對(duì)多種太陽(yáng)電池的測(cè)試（DSSC, Organic, Amorphous silicon, Monocrystalline Silicon, Microcrystalline Silicon, Polycrystalline Silicon, CdTe, CIGS, GaAs），也提供連續(xù)模式配合暗室測(cè)量光電轉(zhuǎn)換較慢的太陽(yáng)能電池材料QE測(cè)量，如染料敏化與光化學(xué)太陽(yáng)能電池材料量子效率測(cè)量。 |
Scan100的主要技術(shù)指標(biāo)
| 項(xiàng) 目 | 指標(biāo)和說(shuō)明 |
| 150W氙燈 | 光學(xué)穩(wěn)定度≦0.8%，可工作在斬波模式（適合常規(guī)單晶/多晶/非晶硅、CdTe CIGS GaAs 等太陽(yáng)能電池）與連續(xù)模式（適合慢響應(yīng)染料敏化電池，有機(jī)太陽(yáng)能電池） |
| 測(cè)試光斑尺寸 | 3mm~10mm |
| 三光柵DSP掃描單色儀 | |
| 波長(zhǎng)范圍 | 300nm～2000nm |
| 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | a） ±0.3nm（1200g/mm,300nm） b） ±0.6nm（600g/mm,500nm） c） ±0.8nm（300g/mm,1250nm） |
| 掃描間隔 | 小可至0.1nm |
| 輸出波長(zhǎng)帶寬 | <5 nm |
| 多級(jí)光譜濾除裝置 | 根據(jù)波長(zhǎng)自動(dòng)切換，消除多級(jí)光譜的影響 |
| 光調(diào)制頻率 | 4 - 400 Hz |
| 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)尺寸 | 164mmx164mm |
| 標(biāo)準(zhǔn)硅探測(cè)器 | 含校正報(bào)告 |
| 偏置光源 | 光強(qiáng)可調(diào)， 高可大于1個(gè)太陽(yáng)常數(shù)（需選配） |
| 樣品 大尺寸 | 156mm×156mm |
| 數(shù)據(jù)采集裝置靈敏度 | a） 斬波模式：2nV；b） 連續(xù)模式：100nA |
| 測(cè)量重復(fù)精度 | 對(duì)太陽(yáng)光譜曲線積分重復(fù)性在±1%以內(nèi) |
| 測(cè)試周期 | 單次掃描<1min，完整測(cè)試<5min （步長(zhǎng)5nm） |
| 反射率測(cè)量 | 鏡面反射 300-1100nm（需選配）；漫反射 300-1600nm（需選配） |
| 溫度控制 | 恒溫控制：25±1℃（需選配）；變溫控制：5~40℃（需選配） |
| 3D Mapping | 156mm×156mm，100um分辨率 |
| 儀器尺寸 | 主機(jī)：842mm×770mm×575mm；控制柜：800mm×600mm×1300mm |
| Solar Cell Scan 100選購(gòu)件列表 | |
| 型 號(hào) | 說(shuō) 明 |
| QE-A1 偏置光源附件 | 150W 高穩(wěn)定氙燈，平行光路含濾光片支架，光穩(wěn)定度≦0.8% |
| QE-C1 鏡面反射率測(cè)試附件 | 含Si探測(cè)器，波長(zhǎng)范圍300-1100nm |
| QE-C2 漫反射率測(cè)試附件 | 含漫反射測(cè)量積分球，Si & InGaAs探測(cè)器，波長(zhǎng)范圍300-1600nm |
| QE-D1 二維電動(dòng)樣品臺(tái) | XY 二維電移臺(tái)及控制驅(qū)動(dòng) |
| QE-F1 真空吸附樣品臺(tái) | 156mm x156mm |
| QE-F2 恒溫樣品臺(tái) | 25 ℃±1℃，156mm x156mm |
| QE-F3 變溫樣品臺(tái) | 5-40 ℃，臺(tái)面尺寸30 mm x30mm |
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