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產(chǎn)品展示

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超快時(shí)間分辨光譜測試系統(tǒng)

  • 產(chǎn)品型號:
  • 產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-20
  • 簡要描述:一套用于皮秒時(shí)間分辨的超快熒光測試系統(tǒng)解決方案,為您提供ps-ns-us 量級的超快熒光壽命或超快等離子體衍化過程的快速測量。
  • 產(chǎn)品介紹

系統(tǒng)主要功能指標(biāo):

  • 寬光譜測量范圍:UV-VIS-NIR, 200-900nm;

  • 高系統(tǒng)時(shí)間分辨率: <=5ps

  • 壽命衰減測量時(shí)間范圍:<=50ps—100us 

  • 高系統(tǒng)光譜分辨率: <0.1nm

  • 寬單次成譜范圍:  >=200nm

  • 靜態(tài)(穩(wěn)態(tài))光譜采集,

  • 瞬態(tài)時(shí)間分辨光譜圖像及熒光壽命曲線

  • 系統(tǒng)集成整體控制及數(shù)據(jù)處理軟件

超快時(shí)間分辨光譜系統(tǒng) 是由光譜儀、超快探測器、耦合光路、系統(tǒng)控制及數(shù)據(jù)處理軟件組成。光譜儀對入射光信號進(jìn)行分光,分光光譜耦合到超快探測器,入射光由透鏡聚焦在陰極上,激發(fā)出的光電子通過陽極加速,入射到偏轉(zhuǎn)場中的電極間,此時(shí)電壓加在偏轉(zhuǎn)電極上,光電子被電場偏轉(zhuǎn),激射熒光屏,以光信號的形式成像在熒光屏上。轉(zhuǎn)換后的光信號還可以再通過圖像增強(qiáng)器進(jìn)行能量放大,并在圖像增強(qiáng)器的熒光屏上成像。最后通過制冷相機(jī)采集熒光屏上信號。因?yàn)殡娮拥钠D(zhuǎn)與其承受的偏轉(zhuǎn)電場成正比,因此,通過電極的時(shí)間差就可以作為熒光屏上條紋成像的位置差被記錄下來,也就是將入射光的時(shí)間軸轉(zhuǎn)換成了熒光屏空間軸。系統(tǒng)控制軟件用于整個(gè)系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)置、功能切換、數(shù)據(jù)采集等,圖像工作站用于采集數(shù)據(jù)處理分析


主要應(yīng)用方向

  • 超快化學(xué)發(fā)光

  • 超快物理發(fā)光

  • 超快放電過程

  • 超快閃爍體發(fā)光

  • 時(shí)間分辨熒光光譜,熒光壽命,

  • 半導(dǎo)體材料時(shí)間分辨PL譜

  • 鈣鈦礦材料時(shí)間分辨PL譜

  • 瞬態(tài)吸收譜,時(shí)間分辨拉曼光譜測量

  • 光通訊,量子器件的響應(yīng)測量

  • 自由電子激光,超短激光技術(shù)

  • 各種等離子體發(fā)光 

  • 湯姆遜散射,激光雷達(dá)

  • 。。。。。。

 

光譜儀建議選型參數(shù)列表

光譜儀型號

Omni-λ2002i

Omni-λ3004i

Omni-λ5004i

Omni-λ7504i

光譜儀焦距

200mm

320mm

500mm

750mm

相對孔徑

F/3.5

F/4.2

F/6.5

F/9.7

光譜分辨率(1200l/mm)

0.3nm

0.1nm

0.08nm

0.05nm

波長準(zhǔn)確度

+/-0.2nm

+/-0.2nm

+/-0.15nm

+/-0.1nm

倒線色散(1200l/mm)

3.6nm/mm

2.3nm/mm

1.7nm/mm

1.1nm/mm

光柵尺寸

50*50mm

68*68mm

68*68mm

68*68mm

光柵臺

雙光柵

三光柵

三光柵

三光柵

與探測器耦合

中繼光路1:1耦合,配合二維焦面精密調(diào)節(jié)一體化底板

系統(tǒng)光譜分辨率(1200l/mm)

<=0.3nm

<=0.2nm

<=0.1nm

<0.08nm

一次攝譜范圍(150 l/mm)

>230nm

>150nm

>90nm

>60nm

光譜儀入口選項(xiàng)

光纖及光纖接口,標(biāo)準(zhǔn)熒光樣品室,鏡頭收集耦合,共聚焦顯微收集耦合等


多系統(tǒng)靈活組合

超快時(shí)間分辨光譜測試系統(tǒng)既可以與飛秒超快光源配合完成獨(dú)立的光譜測試,也可以與卓立漢光的其他系統(tǒng)比如 TCSPC, RTS&FLIM顯微熒光壽命成像系統(tǒng),TAM900寬場瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng),以及低溫制冷室,飛秒&皮秒激光器等配合完成更為復(fù)雜全面的超快測試。

Zolix其他可配合超快測量系統(tǒng)

lRTS2& FLIM 顯微熒光壽命成像系統(tǒng)

  • 光譜掃描范圍:200-900nm(可拓展)

  • 最小時(shí)間分辨率:16ps

  • 熒光壽命測量范圍:500ps-1μs@ 皮秒脈沖激光器

  • 激發(fā)源: 375nm- 670nm 皮秒脈沖激光器可選,或使用飛秒光源

  • 科研級正置顯微鏡及電動(dòng)位移臺

  • 空間分辨率:≤1μm@100X 物鏡@405nm 皮秒脈沖激光器

  • OmniFluo-FM 熒光壽命成像專用軟件


Omni-TAM900 寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)

  • 測量模式:

  • 1:點(diǎn)泵浦-寬場探測:測量載流子遷移和熱導(dǎo)率等;

  • 2:寬場泵浦-寬場探測:測量載流子分布和物理態(tài)的空間異質(zhì)性等。

  • 探測器:sCMOS相機(jī)

  • 成像空間分辨率:優(yōu)于500nm

  • 載流子遷移定位精度 優(yōu)于30nm

  • 時(shí)間延時(shí)范圍:0-4ns或0-8ns可選

  • 搭配倒置顯微鏡,可兼容低溫,探針臺,電學(xué)調(diào)控等模塊


<20ps 的鈣鈦礦薄膜ASE 發(fā)光壽命曲線

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